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 手機充電頭金屬件瑕疵快速檢測方案利用及深度學(xué)習(xí)檢測方法快速完成金屬件雙面瑕疵測量技術研究，具有高精度高效率重要的、檢測范圍廣等優(yōu)勢。

設(shè)備概況：

•        設(shè)備尺寸: 900(W)*1800(L)*1400(H) mm

•        CT: 1.2s/pcs ?     

•        檢測手機充電器金屬頭部分的瑕疵

•        有自動取料姿勢，自動測量相互融合、自動下料和分Bin功能

•        上料部分包括升降模組及移動模組；測量部分由5個CCD構(gòu)成綠色化，對工件5個區(qū)域（正反面不同需求、兩側(cè)面以及一頂面）的瑕疵進行檢測；下料部分分為OK區(qū)域和NG區(qū)域保持穩定。

•        瑕疵檢測類型豐富：條形光用于檢測橫印總之，同軸光用于檢測點傷、發(fā)白不斷進步、缺口工藝技術，環(huán)形光用于檢測刮傷、亮印規模、臟污近年來、側(cè)點傷等瑕疵。